Standard IEC standard · IEC 60444-8:2003

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

Status: Upphävd

· Ersätts av: IEC 60444-8:2016
Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60444-8:2003

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 520 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 520 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ
Omfattning
Explains the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters of a leadless surface mounted quartz crystal units over the frequency range from 1 MHz to 150 MHz using zero phase technique as specified in IEC 60444-4 and IEC 60444-5.

Ämnesområden

Piezoelektriska komponenter (31.140)

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60444-8:2003

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang
Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj
Pris: 520 SEK
standard ikon pdf

PDF

Pris: 520 SEK
standard ikon

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Produktinformation

Språk: Engelska

Framtagen av: IEC

Internationell titel: Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

Artikelnummer: STD-563877

Utgåva: 1

Fastställd: 2003-07-04

Antal sidor: 11

Ersätter: IEC PAS 62277:2001

Ersätts av: IEC 60444-8:2016