Oorganiska ytbeläggningar - Bestämning av skikttjocklek - Röntgenspektrometriska metoder (ISO 3497:2000)
Status:
Gällande
Köp denna standard
StandardSvensk standard
·
SS-EN ISO 3497
Oorganiska ytbeläggningar - Bestämning av skikttjocklek - Röntgenspektrometriska metoder (ISO 3497:2000)
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan.
Läs mer om SIS Abonnemang
WARNING Problems concerning protection of personnel against X-rays are not covered by this International Standard. For information on this important aspect, reference should be made to current international and national standards, and to local regulations, where these exist.
1.1 This International Standard specifies methods for measuring the thickness of metallic coatings by the use of X-ray spectrometric methods.
1.2 The measuring methods to which this International Standard applies are fundamentally those that determine the mass per unit area. Using a knowledge of the density of the coating material, the results of measurements can also be expressed as linear thickness of the coating.
1.3 The measuring methods permit simultaneous measurement of coating systems with up to three layers, or simultaneous measurement of thickness and compositions of layers with up to three components.
1.4 The practical measurement ranges of given coating materials are largely determined by the energy of the characteristic X-ray fluorescence to be analysed and by the acceptable measurement uncertainty and can differ depending upon the instrument system and operating procedure used.
Oorganiska ytbeläggningar - Bestämning av skikttjocklek - Röntgenspektrometriska metoder (ISO 3497:2000)
Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan.
Läs mer om SIS Abonnemang