Standard IEC standard · IEC 60749-8:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Status: Gällande

· Korrigeras av: IEC 60749-8:2002/COR1:2003 , IEC 60749-8:2002/COR2:2003

Köp denna standard

Standard IEC standard · IEC 60749-8:2002

Prenumerera på standarder med tjänst SIS Abonnemang. Genom att prenumerera får du effektiv åtkomst till gällande standarder och säkerställer att ditt företag alltid har tillgång till senaste utgåvan. Läs mer om SIS Abonnemang

Prenumerera på standarden - Läs mer Dölj

Pris: 1 040 SEK

PDF

Pris: 1 040 SEK

Papper

Fler alternativ Färre alternativ

Omfattning

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices.

The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.

Ämnesområden

Allmänt Halvledarkomponenter (31.080.01)

Rabatt	- SEK
Summa	SEK
Frakt	SEK
Moms	SEK
Totalt	SEK

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Ämnesområden

Produktinformation

Inom samma område