Sök bland 100 000 standarder, projekt, utbildningar, böcker och verktyg
Inloggningen misslyckades
E-post
Lösenord
Avbryt
Glömt lösenordet?
E-post
Avbryt
Ännu inte kund hos SIS?
Registrera dig här
För att logga in på e-nav,
klicka här
Om SIS
Kontakta oss
Bli medlem
Logga in
Hem
Terminologi och dokumentation
Ordlistor
Bildteknik
ISO 22493:2008
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
Standard · ISO standard
ISO 22493:2008
Status
Gällande
Välj
PDF
Tryckt
PDF
920 SEK
107,77 €
Tryckt
920 SEK
107,77 €
Produktinformation
Språk
Engelska
Framtagen av
ISO
Internationell titel
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
Artikelnummer
STD-910225
Utgåva
1
Fastställd
2008-09-19
Antal sidor
22
Ämnesområde
Bildteknik (Ordlistor)
01.040.37
Optisk utrustning
37.020
Relaterat
Har du koll på dina standarder?
Läs och kommentera standardförslag direkt på skärmen.
3 senaste
ISO/TR 16743:2013
Optics and photonics -- Wavefront sensors for characterising optical systems and optical components
ISO 19012-2:2013
Microscopes -- Designation of microscope objectives -- Part 2: Chromatic correction
SIS/TK 547
Bildteknik
SÖK LIKNANDE
Standard · 230 st
Standardisering · 1 st
Böcker & verktyg · 0 st
Utbildning · 0 st
Visa varukorgen
Fortsätt handla
0
Varukorgen
Stäng